ВИДИ НЕСПРАВНОСТЕЙ МІКРОПРОЦЕСОРНИХ ВЕЛИКИХ ІНТЕГРАЛЬНИХ СХЕМ І УМОВИ ЇХ ПРОЯВУ З УРАХУВАННЯМ ЕНЕРГОДИНАМІЧНОГО ПРОЦЕСУ
DOI:
https://doi.org/10.17721/2519-481X/2023/79-13Ключові слова:
модуль великої інтегральної мікросхеми, енергодинамічний процес, радіоелектронна техніка, імпульс квазікороткого замикання, тестові впливиАнотація
У статті розглянуто математичну модель мікропроцесорних великих інтегральних схем для контролю технічного стану з урахуванням протікання енергодинамічного процесу даного класу мікроелектронних виробів, здійснено аналіз типових несправностей та умов їх прояву. Сучасний етап розвитку радіоелектронної техніки Збройних Сил України характеризується широким впровадженням приладів та систем, які використовують великі інтегральні схеми та мікропроцесорних великих інтегральних схем. Це обумовлено необхідністю обробки інформації при досить низькій собівартості обладнання. При використанні цифрових пристроїв з комплектами мікропроцесорних великих інтегральних схем, гостро постає питання контролю працездатності та виявлення дефектів таких пристроїв. Для удосконалення нових методів діагностування цифрових пристроїв виникає необхідність проаналізувати види несправностей, які виникають в мікропроцесорних великих інтегральних схемах.
Мікросхема функціонуватиме справно, якщо встановлено, що всі послідовності інструкцій виконуються правильно при різноманітних комбінаціях даних. Повна перевірка всіх інструкцій, виконуваних мікропроцесорною великою інтегральною схемою, неможлива через дуже велику довжину тестів, що використовуються для перевірки. Тому для забезпечення тестового контролю працездатності мікропроцесорних великих інтегральних схем необхідно будувати тести, виходячи з заданої сукупності дефектів, достовірності та часу для прийняття рішення. Проведений аналіз фізичних процесів у логічних елементах виготовлених за технологією “метал-діелектрик-напівпровідник” показав, що наявність існуючих дефектів приводить до відсутності перекручування імпульсу струму квазікороткого замикання і вихідної реакції. Тобто виконується умова прояву дефекту та скорочується час діагностування.
Посилання
1. Kredencer B. P.(2013) “Nadijnist sistem z nadlishkovistyu: metodi, modeli, optimizaciya” [Reliability of systems with redundancy: methods, models, optimizatio], Nac. tehn. un-t Ukrayini «Kiyiv. politehn, Feniks, 341 p.
2. Zhierdev M.K., Savran V.O. (2016) Kontseptualni zasady metodu diahnostuvannia suchasnykh tsyfrovykh typovykh elementiv zaminy po formatnym chastotam perekhidnoho protsesu v shyni zhyvlennia [Conceptual foundations of the method of diagnosing modern digital typical replacement elements by the format frequencies of the transition process in the power bus], Collection of scientific works of the Military Institute of Taras Shevchenko Kyiv National University.K. VIKNU, Issue 52, pp. 20-32.
3. Lienkov S. V., Zhirov H.B., Tolok I. V. Lienkov Ye. S. Simulation model of the adaptive maintenance procedure of complex radioelectronic facilities 2313-688X Radio Electronics, Computer Science, Control. ISSN: 1607-3274. 2020. No 1. –P63-74. DOI 10.15588/1607-3274-2020-1-7
4. Vyshnivskyi V.V., Kuzavkov V.V., Haidur H.I. (2014), Problema pobudovy ta vprovadzhennia avtonomnykh avtomatyzovanykh system diahnostuvanniaradioelektronnoho ozbroiennia [The problem of building and implementing autonomous automated systems for diagnosing radio-electronic weapons], Scientific Journal Information Security East Ukrainian National University named after Volodymyr Dahl. Luhansk, Vol. No. 4 (16). pp. 151-157.
5. Shkulipa P.A.(2013) “Alhorytm pobudovy diahnostychnoi modeli tranzystora v rezhymi vidsichky dlia enerhodynamichnohometodu diahnostuvannia”[Algorithm for constructing a diagnostic model of a transistor in cut-off mode for an energy-dynamic method of diagnosis], Collection of Scientific Works of the Military Institute of Kyiv National University named after Taras Shevchenko. K. No, 39, pp. 229-233.
6. Zubaryev V.V., Lyenkov S.V., Mokryczky V.A., Peregudov D.O. (2009), “Vplyv defektiv funkcional nyx materialiv na nadijnist elektroniky ” [The influence of defects of functional materials on the reliability of electronics ], monograph. Odesa: Druk, 454 p.
7. Shkulipa P.A. (2012) “Osnovni napryamki rozvitku avtomatizovanih sistem tehnichnogo diagnostuvannya ob’yektiv radioelektroniki” [The main directions of the development of automated systems for technical diagnostics of radio electronics objects], Visnik Hmelnickogo nacionalnogo universitetu. Tehnichni nauki, Hmelnickij, № 6. pp.192 – 194.
8. Lyenkov S.V., Peregudov D.O., Lykov O.I., Synicyn V.S. (2004) “Diagnostyka vyrobiv elektronnoyi texniky za sukupnistyu parametriv ” [Diagnostics of electronic equipment products by a set of parameters ], Collection of scientific works of VITI NTUU «KPI», K., No. 1.pp.92 - 96.
9. Zhyrov H.B.(2005),“Uzahalnena diahnostychna model tsyfrovoi VIS dlia enerhostatychnoho metodu diahnostuvannia” Generalized diagnostic model of digital VIS for the energy-static method of diagnosis], Bulletin of KNU named after Taras Shevchenko. Sir Military special sciences. K.: Kyiv. University, No.11 рр 55-60.
10. Shevchenko V.V. (2015), “Vyznachennia tekhnichnoho stanu tsyfrovykh typovykh elementiv zaminy za do-pomohoiu elektromahnit-noho metodu diahnostuvannia” [Determining the technical condition of digital typical replacement elements using the electromagnetic method of diagnosis], Modern information technologies in the sphere of security and defense. Kyiv, No. 1 (22), pp 136-139.
11. Zhurakhivskyi A.V., Kinash B.M., Pastukh O.R. (2016) “Nadiinist elektrychnykh system i merezh : navchalnyi posibnyk ” Ministerstvo osvity i nauky Ukrainy, Nationalnyi universytet «Lvivska politekhnika», Lviv . [Reliability of electrical systems and networks: a study guide] Vydavnytstvo Lvivskoi politekhniky, 280 р.
12. Hlukhov S.I. (2009), “Diahnostuvannia tsyfrovykh radioelektronnykh komponentiv typovykh elementiv zaminy radioelektronnoi tekhniky z vykorystanniam elektromahnitnoho metodu u viiskovykh remontnykh orhanakh” [Diagnostics of digital radio-electronic components of typical replacement elements of radio-electronic equipment using the electromagnetic method in military repair bodies], Zbirnyk naukovykh prats Viiskovoho instytutu Kyivskoho natsionalnoho universytetu im. Tarasa Shevchenka. К. No.21, pp. 42-45.
